| EOFAST Système d’échantillonnage électro-optique pour la mesure de
|
| Le système de mesure électro-optique, qui utilise conjointement l’électronique
et l’optique, peut mesurer des signaux électriques avec une bande passante supérieure
à 440 GHz soit une résolution temporelle de l’ordre de la picoseconde. Cet outil de métrologie, donnant accès à la phase et à l’amplitude du champ électrique, est donc à même de remplacer l’oscilloscope. Il permet en outre de déterminer le sens de propagation du signal et ainsi de déterminer la présence d’échos parasites.
|
| |
| Description technique : |
L’évolution temporelle des signaux électriques est actuellement visualisée avec
des oscilloscopes dont les modèles les plus rapides possèdent des bandes passantes
autour de 110 GHz. Or les composants électroniques les plus rapides
atteignent des fréquences de plusieurs centaines de GHZ et nécessitent donc
l’utilisation d’appareils de bandes passantes supérieures.
Le système de mesure électro-optique, qui utilise conjointement l’électronique
et l’optique, peut mesurer des signaux électriques avec une bande passante supérieure à 440 GHz soit une résolution temporelle de l’ordre de la picoseconde.
Cet outil de métrologie, donnant accès à la phase et à l’amplitude du champ électrique, est donc à même de remplacer l’oscilloscope. Il permet en outre de déterminer le sens de propagation du signal et ainsi de déterminer la présence d’échos parasites.
Au-delà de la caractérisation de circuits électroniques, le système de mesure
électro-optique est également adapté à l’étude, dans la gamme de fréquence
THz, de divers matériaux et biomatériaux. |
| |
| Applications industrielles : |
• Télécommunications, Caractérisation des circuits électroniques et optoélectroniques
rapides
• Sécurité, Matériaux, Caractérisation à haute fréquence de milieus stratifi és
complexes
• Biologie, Caractérisation de biomatériaux aux fréquences THZ avec une résolution
spatiale très inférieure à la limite de diffraction |
| |
| Principaux avantages : |
• Gamme de fréquences (de 50 GHz au THz)
• Résolution temporelle
Temps de montée de 460 fs.
Bande passante du système de mesure de 440 GHz
• Rapport Signal/bruit élévé
Dynamique de 40 dB jusqu’à des fréquences de 450 GHz
• Détermination du sens de propagation
Cette détermination s’obtient en comparant la réponse du système
dans deux modes d’utilisation de la sonde électro-optique. Cette technique
est donc très prometteuse pour identifi er les échos parasites dus aux désadaptations
d’impédance inhérentes aux circuits électroniques fonctionnant à très
hautes fréquences.
• Cartographie 3D des circuits avec une bonne résolution spatiale de 30μm
La sonde de mesure peut être déplacée dans les 3 directions de l’espace
avec une précision micrométrique. |
| |
| Stade de développement : |
| Prototype |
| |
| Propriété intellectuelle : |
Demande de brevet française
et internationale
Copropriété Université Paris Sud-
CNRS |
| |
| Type de partenariat : |
| License, collaboration de recherche |
| |
| |
|
| |
| |
| Ref : DI 105 Mangeney |
 |
|
|
| |
| Contacts : |
| Zehou Ouissem |
| Business Development Manager
SAIC
Université Paris Sud
|
| Tel : +33(0)1 69 15 43 46 Fax : |
| ouissem.zehou@u-psud.fr |
| |
| Mangeney Juliette |
| Université Paris Sud
Institut d'électronique Fondamentale |
| juliette.mangeny@u-psud.fr |
|